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近期，蔡司全新发布了基于场发射扫描电镜的原位实验平台，其通过新开发的集成化的软硬件系统，自动化的工作流程使用户从传统的艰难且可靠性低的原位测试实验中解放出来，可轻松的在拉伸/加热环境下进行自动甚至无人值守的原位实验。
为了使您更加深入的了解原位解决方案的应用，此次蔡司联合牛津仪器，将分别从原位SEM成像和原位EDS/EBSD分析应用出发，并结合在线实验操作展示，使您获得第一手的，身临其境的体验。加入会议，了解更多有关蔡司原位实验平台解决方案的信息：
?无人值守的自动化原位实验工作流程技术细解
?先进的自动化原位EDS和EBSD分析技术
?原位实验流程在线展示
会议信息
全自动原位拉伸/加热成像与分析解决方案
——蔡司场发射扫描电镜原位实验平台
时间：-6-:00
语言：中文
主讲人：高迪（蔡司中国显微镜资深应用专家）
硕士毕业于北京工业大学，年至今在蔡司显微镜部担任应用技术专家，在电子显微学及微纳加工等相关领域有多年工作和学习经验，为国内近百余客户进行了应用培训和成像演示工作，协助用户解决SEM及FIB应用问题。熟悉SEM和FIB在材料科学、化学物理、半导体科学等领域的应用。
主讲人：陈帅（牛津仪器资深应用专家）
年3月毕业于日本京都大学材料工学专攻，获工学博士学位，博士期间主要研究超细晶亚稳态奥氏体钢的相变诱发塑性和马氏体相变。毕业后先后在钢铁公司和材料分析公司从事钢铁产品开发以及高纯材料分析等工作。年加入牛津仪器，主要负责EDS、EBSD、OP的推广及技术支持
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